X熒光光譜儀的粒度效應是采用X熒光光譜儀進行粉末樣品分析環節一個需要重視的問題。

X熒光光譜分析法是一種表面分析方法，其分析深度只有幾個微米，因此對于粉末樣品的分析，X射線的強度可能隨樣品粒度和樣品的不均勻性而變化，這個現象是粒度效應。與之伴隨的就是X神仙強度因為分析樣品的化學成分和礦物晶體形態不同產生的變化現象，礦物效應。

在X熒光強度的推導公式中，我們的假設，是樣品都是均勻且表面光滑的。但實際上只有液體樣品或經過充分拋光的純金屬或某些合金樣品才能滿足這些條件，對于其他固體樣品特別是粉末樣品，就是存在樣品的不均勻及粒度效應和表面效應。所以，通常認為，使用X熒光分析方法檢測樣品，理想的樣品就是要采用熔樣機熔融樣品，測量融樣片檢測。

如果只能選擇粉末分析方法，我們需要將樣品均勻化，粉末粒度盡可能小，要小于200目以下，將粉末樣品的粒度和化學組成達成相同。實驗顯示，樣品在給定的壓緊份數下，粒度越小，熒光譜線的強度越高。對于給定的粒度來說，壓力越大，即壓緊份數越小，熒光譜線強度也越高。而不均勻樣品則不同，在不均勻樣品中，存在著各種不同的粒度或化學組成的顆粒，影響熒光譜線強度的因素會較復雜。在經過操作過后，仍然需要將松散的粉末樣品經過壓緊壓實，以消除松散粉末表面結構的重復性。

X熒光光譜儀的廣泛應用

值得注意的是，X熒光光譜儀的測量方式，是一種相對比較分析方法，需要用到標準樣品，標準樣品的制作和樣品的制作，需要完全相同，研磨力度，粒度大小，研磨時間，粘合劑，壓片壓力等等。

粒度效應作為X熒光光譜儀粉末樣品制取中一個關鍵性問題，需要注意。創想儀器GLMY，專業的分析儀器生產廠家，為您帶來更多的資訊。