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                    服務 > 問題解決 > X熒光光譜儀使用哪種分析方式?
                    X熒光光譜儀使用哪種分析方式?
                    發布時間:2022-06-06 點擊:14

                    X熒光光譜儀是目前市場占有率非常高的一款儀器,諸多的優點讓它在分析檢測領域大放異彩。

                    X熒光光譜儀儀器穩定,分析速度快,自動化程度高,用單道X射線熒光光譜儀測定樣品中的一個元素只需要5-20秒。用多道光譜儀,能在20到100秒內測定完樣品中全部的待測元素。

                    X熒光光譜分析法采用的是X射線熒光光譜分析,其余元素的化學結合狀態無關,所以我們往往能利用這種儀器檢測多種類樣品,晶體或非晶體的塊狀固體、粉末及封閉在容器內的液體或氣體都可以直接進行測定。

                    X射線熒光光譜分析是一種物理分析方法。非破壞分析、測量的重現性好。同樣它的分析精度也高,分析精度達到0.04%-2%。X射線光譜比其他發射光譜就愛吃呢,易于解析,尤其是定性分析。其能在250μm或3μm范圍內進行定位分析,面掃描成像分析;具有在低倍率定性、定量分析(帶標樣)物質成分。

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                    X熒光光譜儀的粉末檢測

                    X熒光光譜分析法也能外表分析,測定部位是0.1mm深以上的外表層,可以用于外表層狀態、鍍層、薄膜成分或膜厚的測定。能有效地用于測定膜的厚度和組成。

                    但是同樣的,X熒光分析方法也有缺點,因為X射線熒光光譜分析是一種相對的比較分析,定量分析需要標樣對比,而且標樣的組分與被測樣的的組分要差不多,另外在制樣手法上,標樣的制作與樣品的制作要滿足一致性。

                    原子系數低的元素,其檢出限及測定誤差一般都比原子序數高的元素差;對于超輕元素(H、Li、Be),目前還不能直接進行分析。

                    X熒光光譜分析儀是一款被廣泛使用的儀器,關注儀器的信息,了解其分析方法,幫助我們更好的實現元素的分析。

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